共同研究成果報告
デジタルツインによるプロセス全体最適化で半導体 CIS ノイズ 70％低減！
30⼯程を⼀気通貫するメタファクトリー、実ラインで実証
グローバルウェーハズ・ジャパン株式会社は、アイクリスタル株式会社、名古屋大学、ソニーセミコンダクタマニュファクチャリング株式会社と連携し、製造プロセス全体を仮想空間上で連携・連動させる新たなプラットフォーム「メタファクトリー」を構築しました。
本技術により、SiウェーハからCMOSイメージセンサー（CIS）製造までの複数工程を企業横断で接続し、工程間の連携を重視した一貫したプロセス設計が可能となりました。
実ラインでの試作では、CISノイズ特性を従来比約70％改善するという、著しい成果を達成しました。
関連リンク:
メタファクトリー成果プレスリリース(PDF)
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